型號：XTD

X光膜厚儀測厚儀

描述：X光膜厚儀測厚儀是集多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設(shè)計，使測試工作更加輕松完成。貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒探測器，以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計，使儀器操作更人性化、更方便。

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
更新時間
2025-05-19
訪問量
1381

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X光膜厚儀測厚儀性能特點

專業(yè)貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。

X光膜厚儀測厚儀技術(shù)指標

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測量對象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達：ppm。
分析含量一般為：ppm到99.9％。
多次測量重復(fù)性可達：0.1％。
長期工作穩(wěn)定性為：0.1％。

標準配置

單樣品腔。
正比計數(shù)盒探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
外觀尺寸： 430×380×355mm
樣品腔尺寸：306×260×78mm
重量：30kg