型號：EDX3600H

天瑞X射線熒光光譜儀

描述：天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600H融匯合金分析技術(shù)，配備智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點(diǎn)。

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
更新時間
2025-05-18
訪問量
1676

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詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,地礦,電子/電池,包裝/造紙/印刷,紡織/印染

天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600H性能特點(diǎn):

超薄窗X光管。

針對合金的測試而開發(fā)的專用配件。

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。

低能X射線激發(fā)待測元素，對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好。

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍。

自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性。

高信噪比的電子線路單元。

針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣。

多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制。

內(nèi)置高清晰攝像頭。

液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

合金測試超薄窗X光管

超薄窗大面積的SDD探測器

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

高信噪比電子線路單元

內(nèi)置高清晰攝像頭

自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片

自動穩(wěn)譜裝置

三重安全保護(hù)模式

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證

90mm×70mm的液晶屏

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

樣品腔體積：Φ320mm×100mm

重量：65Kg

天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600H技術(shù)指標(biāo)：

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時分析元素：一次性可測幾十種元素

測量時間：60秒-200秒

能量分辨率為：（140±5）eV

管壓：5KV-50KV

管流：50uA-1000uA

應(yīng)用領(lǐng)域：

檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品。

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